Die in-situ PAT-Sensoren arbeiten auf der Grundlage der patentierten ORM (Optische Rückreflexionsmessung) Technologie mit der ToF( Time of Flight) Methode. Ein Laserstrahl wird über einem Partikelstrom bewegt. Aus der Zeitspanne , die zum Überstreichen der fokussierten Partikel benötigt wird, wird deren Größe bestimmt.
Je nach Anwendung ist die Fokusbewegung fix, linear oder linear und rotierend.
Die einzigartige dynamische Fokussierung erlaubt einen großen dynamischen Messbereich von 0,5 bis 2000 µm.
Artefakte und Agglomerate lassen sich mithilfe der Ultraschalldispergierung erfassen, mehr...
Die modulare Konfigiruation aller Komponenten hat den Vorteil, dass die Sequip Systeme kundenspezifisch ausgerüstet sind und somit für jede mögliche Applikation passgenau zugeschnitten sind.
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