Anwendungen der PAT Systeme

In-situ Prozesssteuerung

Partikelgrößenverteilung von Suspensionen

Dynamische Verteilung von Dispersphasensystemen in hohen Konzentration

Messung von trockenen Materialien, wie Pulver und Granulate

Grundlagen der ORM Technologie

Die in-situ PAT-Sensoren arbeiten auf der Grundlage der patentierten ORM (Optische Rückreflexionsmessung) Technologie mit der ToF( Time of Flight) Methode. Ein Laserstrahl wird über einem Partikelstrom bewegt. Aus der Zeitspanne , die zum Überstreichen der fokussierten Partikel benötigt wird, wird deren Größe bestimmt.

Je nach Anwendung ist die Fokusbewegung fix, linear oder linear und rotierend.

Die einzigartige dynamische Fokussierung erlaubt einen großen dynamischen Messbereich von 0,5 bis 2000 µm.

Artefakte und Agglomerate lassen sich mithilfe der Ultraschalldispergierung erfassen, mehr...

Technische Möglichkeiten und Grenzen

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Die modulare Konfigiruation aller Komponenten hat den Vorteil, dass die Sequip Systeme kundenspezifisch ausgerüstet sind und somit für jede mögliche Applikation passgenau zugeschnitten sind.

Anfrageformular für eine kundenspezifische Konfiguration des PAT Sensor Systems
Je detaillierter wir die Anwendung kennen, um so passgenauer und kosteneffektiver können wir Ihr Messsystem konfigurieren.
ClientsInquiryChecklistV17.07.doc
Microsoft Word-Dokument [117.5 KB]

Anwendungsbeispiele

Hier finden Sie eine Reihe typischer Anwendungen und Applikationsberichte.