In Process - In-line - in situ Sensor Technology
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20年以上の経験に基づくIn Situ粒子計測や工程分析技術             (PAT: Process Analytical Technology)

Sequip PAT センサーテクノロジーは高濃度の分散系で粒径や粒子の性質を分析します。レーザーエネルギーを利用する自選動的集束システムの光学系測定です。

 

プロセスパラメータの影響がサンプリングせず、リアルタイムに測定されるので、プロセス制御において極めて高度な安全性を実現できます。センサーを装置するところは反応器中、発酵槽中および配管中です。それともビーカーやシャーレの中でも使えます。



使用選択

 

  • 原濃度の分散系の中粒形質
  • エマルジョン安定性分析
  • 結晶化制御
  • 溶体化処理
  • 発酵
  • アグロメレート化
  • 粒子信号の分析
  • サスペンション中の粒子測定
  • 排ガス中の粒子測定
  • バイオセル・バイタリティーの分析



Kontakt / Contact:

Sequip S+E GmbH

Angermunder Str. 22

D-40489 Düsseldorf

 

Telefon:+49(0)203 742140

Fax: +49(0)203 7421444

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